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ICT檢測設(shè)備的光學(xué)檢測與老化測試!

業(yè)界ニュース|2023-10-18|admin

  ICT檢測設(shè)備的自動光學(xué)檢查(AOI)


  AOIICT測試設(shè)備公司使用一臺2D相機(jī)或兩臺3D相機(jī)拍攝PCB照片。然后,程序會將電路板的照片與詳細(xì)的原理圖進(jìn)行對比。假設(shè)有電路板在某種程度上與原理圖不符,那么電路板就會被標(biāo)記出來,讓技術(shù)人員檢查。


  ICT檢測設(shè)備AOI可用于早期發(fā)現(xiàn)問題,以確保盡快停止消費。但是,它不會向電路板供電,也可能無法完全覆蓋所有元件類型。


  不要僅依靠自動光學(xué)檢測。AOI應(yīng)與其他測試分開使用。我們喜歡的一些組合是:


  1.AOI和飛針


  2.AOI和在線測試(ICT)


  3.AOI和功能測試


  4.ICT檢測設(shè)備的老化測試


  ICT檢測設(shè)備老化測試是對PCB更激烈的測試。它旨在檢測早期缺陷,并建立加載能力。由于其強度,老化測試可能會損壞被測試的零件。

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  ICT檢測設(shè)備老化測試通過您的電子設(shè)備推動電源,通常以其指定的容量。通過電源電路板連續(xù)運行48至168小時。假設(shè)董事會失敗,叫做嬰兒死亡率。對于軍事或醫(yī).療應(yīng)用,嬰兒死亡率高的電路板顯然不太理想。


  ICT檢測設(shè)備老化測試并不適合每個項目,但在某些中心是有意義的。它可以在產(chǎn)品到達(dá)客戶之前避免尷尬或有風(fēng)險的產(chǎn)品發(fā)布。


  記住,ICT檢測設(shè)備的老化測試會縮短產(chǎn)品的使用壽命,尤其是當(dāng)測試讓你的電路板承受超過額定值的壓力時。假設(shè)很少或沒有發(fā)現(xiàn)缺陷,可以在短時間內(nèi)降低測試標(biāo)準(zhǔn),以避免PCB承受過大的壓力。


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